R&S数字测量模块TS-PHDT用于复杂电子电路测试

      罗德与施瓦茨公司(R&S)全新的高速数字测试模块R&S TS-PHDT支持高达40MHz的数据速率以及1.5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，因此节约了大量的测试时间。

      R&S TS-PHDT，这个小巧的测试模块是由罗德与施瓦茨公司和Atmel的射频与汽车业务部紧密合作共同开发的；是专为电子组件日趋复杂的数字电路的功能测试而设计的。另外，测试与测量仪器也必须满足当前技术对记忆深度、实时性以及等级编程的需求。而R&S TS-PHDT则是市场上款基于PXI的满足此类应用的解决方案。

     在功能测试的初始化时，首先，针对该被测件(DUT)的所有激励信号的参数以及期望值都被性的传送到测试模块内部1.5GB的存储介质上(3×64M采样)。另外，该模块还允许用户在微控制器的非易失性记忆体(NVRAM)或Flash内进行编程，用来仿真数字控制器或处理器总线。

     R&S TS-PHDT是一款非常小巧的高速数字测试模块；它仅仅占用R&S CompactTSVP平台的一个插槽。通过软面板以及DLL格式的驱动，就可以对它进行操作。测试平台与该模块的接口则是PCI总线。其PXI触发功能使得它可以同步到其他R&S TS-PHDT模块以及罗德与施瓦茨公司或者其他公司的基于PXI的测量或激励模块，这样可以很容易地扩展其数字通道的个数，从而满足对模拟和数字信号的其它测试需求。

     R&S TS-PHDT高速数字测量模块现已上市。