R&S和Atmel共同开发高速数字测试模块TS-PHDT

       罗德与施瓦茨公司和Atmel的射频与汽车业务部日前紧密合作共同开发R&S TS-PHDT，是专为电子组件日趋复杂的数字电路的功能测试而设计的。另外，测试与测量仪器也必须满足当前技术对记忆深度、实时性以及等级编程的需求。而R&S TS-PHDT则是市场上款基于PXI的满足此类应用的解决方案。 
       &S TS-PHDT 是一款非常小巧的高速数字测试模块；它仅仅占用R&S CompactTSVP平台的一个插槽。通过软面板以及DLL格式的驱动，就可以对它进行操作。测试平台与该模块的接口则是PCI总线。其PXI触发功能使得它可以同步到其他R&S TS-PHDT 模块以及罗德与施瓦茨公司或者其他公司的基于PXI的测量或激励模块，这样可以很容易地扩展其数字通道的个数，从而满足对模拟和数字信号的其它测试需求。