x射线荧光仪|x射线荧光仪直销|量大从优

　　X射线荧光仪产品简介：

　　X射线荧光仪一般是采用放射性同位素作为激发源，激发岩矿样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。

　　学科：核地质学

　　词目：X射线荧光仪

　　英文：X-ray fluorimeter

　　释文：仪器分为室内分析。野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区分邻近元素的特征X射线。为此，野外便携式仪器常采用平衡滤片（即利用不同物质对不同元素的特征X射线具有选择性吸收的特性，所制成的一种薄片），置于探测器和待测元素的样品之间，以使之形成能量"通带",造成只容许待测元素的特征X射线通过，进而提高区分邻近元素的特征X射线的能力。[1]

　　X射线荧光仪特点：

　　1.在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

　　2.X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，

　　从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

　　3.当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由

　　此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。

　　4.逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素

　　的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量

　　值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。

　　5.在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

　　X射线荧光仪技术指标：

　　元素分析范围从钠（Na）到铀（U）

　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%

　　测量时间：60-300秒

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特

　　X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时

　　温度适应范围为15℃至30℃

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高斯平滑滤波校正

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 190x190x44 mm

　　仪器尺寸 500x380x355 mm