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x射线荧光分析仪产品简介:
x射线荧光分析仪是国内较新型的一款多元素分析仪,可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多种元素。共五个大通道,每个通道各有三十个小通道(可储存30条工作曲线),原则上共可检测150个元素,品牌电脑微机控制,全中文菜单式操作,台式打印机打印结果。
x射线荧光分析仪技术指标:
多镀层,1~6层
测试精度:0.01 um
多次测量重复性误差<0.1%
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10-60秒
Si-PIN探测器,能量分辨率为149电子伏特
微焦X射线管50KV/1mA,钨靶,焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时
7个准直器及6个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台,最大荷载为5公斤
高清CCD摄像头,精确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
x射线荧光分析仪图谱界面:
软件支持无标样分析
超大分析平台和样品腔
集成了镀层界面和合金成分分析界面
采用先进的多种光谱拟合分析处理技术
分析精度可达到0.01um
x射线荧光分析仪原理:
根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的,它采用圆孔进光。
根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪,衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。光学多道分析仪OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器,它集信息采集,处理, 存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理,测量工作,使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件,提高了工作效率;使用OMA分析光谱,测量准确迅速,方便,且灵敏度高,响应时间快,光谱分辨率高,测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机,绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测。
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SENSE/善时