茂名荧光光谱仪EDX-900

        茂名荧光光谱仪EDX-900技术指标：


　　多镀层，1～6层


　　测试精度：0.01 um


　　元素分析范围从铝(Al)到铀(U)


　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%


　　测量时间：10-60秒


　　多次测量重复性误差<0.1％


　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特


　　X射线管50KV/1mA，寿命大于3万小时


　　高清CCD摄像头，精确监控位置


　　准直器尺寸0.1～1.0mm


　　多变量非线性去卷积曲线拟合


　　高性能FP/MLSQ分析


　　样品室尺寸 320x330x80 mm


　　仪器尺寸 500x380x355 mm


　　茂名荧光光谱仪EDX-900简介：


　　镀层厚度检测仪：由于X射线具有穿透性，多镀层分析时，每一层的特征X射线在出射过程中，都会互相产生干扰。随着镀层层数的增加，越靠近内层的镀层的检测误差越大；同时外层镀层由于受到内层镀层的影响，测试精度也将大大下降。为解决多镀层的影响，在实际应用中，多采用实际相近的镀层样品进行比较测量（即采用标准曲线法进行对比测试的方法）来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。