新疆荧光光谱仪iEDX-150WT

        新疆荧光光谱仪iEDX-150WT技术指标：


　　多镀层，1～4层


　　测试精度：0.01 um


　　多次测量重复性误差<0.1％


　　元素分析范围从铝(Al)到铀(U)


　　测量时间：10-60秒


　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特


　　微焦X射线管50KV/1mA，钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时


　　7个准直器及6个滤光片自动切换


　　XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤


　　高清CCD摄像头，精确监控位置


　　多变量非线性去卷积曲线拟合


　　高性能FP/MLSQ分析


　　平台尺寸 700x580x25 mm


　　平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm


　　新疆荧光光谱仪iEDX-150WT镀层厚度分析系列:


　　iEDX-150WT


　　采用非真空样品腔；


　　专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析；


　　可同时分析镀层中的合金成分比列。


　　新疆荧光光谱仪iEDX-150WT基本原理：


　　当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12~10-14S，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。


　　当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光(特征X射线)，其能量等于两能级之间的能量差。


　　不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同，因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。