供应X荧光镀层测厚仪 X-Strata920系列

地区:广东 深圳
认证:

深圳市鼎极天电子有限公司

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X射线荧光分析仪 X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

行业

     X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了:

卓越的性能

快速、精确的分析:

大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供最佳灵敏度

简单的元素区分:

通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 

性能优化,可分析的元素范围大:

X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法

卓越的长期稳定性:

自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果

例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正

坚固耐用的设计

可在实验室或生产线上操作

坚固的工业设计

三种配置选择

固定样品台

  • 样品台位置固定
  • 经济、实用
  • 平面样品台设计,适合高
    度不超过1.3"(33mm)的样
    品分析

加深样品台

  • 高度每英寸(25.4mm)可
    调,架构式样品舱可容纳
    最大高度6.3"(160mm)的
    样品

程控样品台

  • 用于自动化测量
  • 方便根据测试位置放置样品,
    并精准定位测量点
  • 样品台尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (宽)
  • 程控台移动距离:7" x 7",
    即178mm x 178mm

型号/规格

X-Strata920

品牌/商标

牛津