这个想法是，组件冗余（在这种情况下是配对的 MOSFET）将允许一个 MOSFET 仍然正常工作，即使由于宇宙射线事件、单粒子翻转或 SEU（图 1）导致开关电源中的配对 MOSFET 无法正常开关。

　　图 1宇宙射线产生的 SEU 可导致组件故障。
　　然而，SEU 不一定来自宇宙射线。CMOS 集成电路有时会无缘无故地出现闩锁现象。闩锁现象来自内部四层结构，这些结构看起来非常像 SCR，触发时几乎可以将 +Vcc 导轨引脚短路至地面。与功率 MOSFET 的情况不同，组件冗余可能是不可能的。在这种情况下，SEU 恢复可能是答案。

　　图 2是概念性的，但它源自于在更复杂的设计中使用的实际电路。

　　图 2 SEU 恢复概念，其中绿色电路容易发生闩锁。
　　基本思路是，绿色的 Q1、Q2 等代表容易发生闩锁的集成电路，可能是 CMOS，而蓝色的 V1 等代表闩锁触发器。黄色的 RC 对延迟了闩锁恢复过程，因此可以在示波器上更轻松地看到恢复场景，但我们很快就会移除该 RC 对。
　　当 IC 锁存时，它会拉低 +5 伏稳压器的输出。当该电压低于比较器阈值（如图所示为 +3 伏）时，比较器会向功率 MOSFET 发送驱动脉冲，从而进一步降低轨电压，使 IC 锁存器无法维持。当功率 MOSFET 再次关闭时，+5 伏稳压器输出电压恢复正常。

　　如果我们现在消除该 RC 延迟，情况将以相同的方式进行，但在这个模拟中，一切都发生得太快，以至于闩锁器件的饱和电压无法在示波器显示屏上看到（图 3）。

　　图 3 SEU 恢复，其中 RC 延迟现已消除。