在实际应用中,经常会出现无法达到标称 的情况,而且还会出现波形严重失真的问题,这一现象长期困扰着我们的硬件工程师,那么,在实际的ADC应用中,为何会出现这种情况呢?
笔者在这里通过一个实例和大家一起共同来探讨 ADC在应用中可能会碰到的问题。
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日前,有客户公司在用某ADC做AD转换的时候,碰到这样一个问题,客户传感器型号PT100,在采集信号时,输入采样端的波形如下:
我们首先假定这是一个直流前端,抛开交流耦合等因素,单从这个采样波形来看,采样端明显是工作异常的。那么,为何会出现这种情况呢?
模型初探
我们先来大致解剖一下 ADC电路参考模型及其驱动电路,通过这个模型来跟大家共同来探讨一番,为了便于做定量分析,我们在文中插入一些公式,供大家参考。
为了更加直观,我们删繁就简,重新整理这个电路,单看输入、采样端的电路模型,大致如下:
为了简化设计,我们假设输入电压近似于一个直流电源,抛开耦合因素,输入内阻远大于采样电阻,Rin>>Rsh,输入电容和采样电容之间的关系用a来表示:
初始状态,相对来说Vin向Cin充电相对较小,主要看Cin向Csh充电过程,我们构建电路模型如下图所示:
根据以上模型,可以大致推导出第1阶段输入电压和采样电压对应方程,以及采样电容充电时间关系。
当Csh电压迅速上升到与Cin相当之后,我们忽略Rsh对电路的影响,我们重新构建第2阶段电路模型如下。
此时,等效电容为输入电容和采样电容并联,根据以上模型,可以大致推导出输入电压和采样电压对应方程如下:
此时,根据等效模型,我们可以推导出正常状态下:
由此,我们可以画出采样端波形大致如下:
根据ADC内部结构和,我们可以很轻松的推导出,第二阶段的时间远远大于 阶段的时间,同时,我们也可以推导出,采样时间和输入电阻必须满足:
按照正常采样,第二阶段采样时间必须要满足输入电阻、输入电容和采样电容并联的乘积关系。如果采样不足,又会出现怎样的情况呢?在采样开关断开之后,采样保持阶段,由于Cx变小,输入电容充电速度明显加快,此时,Csh电压几乎不变,大致波形应如下(具体推导公式不再列出):
结合该客户反馈的测试结果,我们大致判断出,客户这个问题是由于在未达到采样条件时就开始进行ADC采样并转换引起。
解决方案
结合上述电路模型及其推导公式,我们该如何解决此类问题呢?我们给出三种建议:
延迟采样时间;
加大输入电容;
增加驱动电路,重构输入阻抗。
实施细节
一、延迟采样,增加采样周期
这一点不难理解,只要采样速率没有要求,理论上来说,增加采样周期,完成ADC转换完全没问题,本文不做重点讲解。
二、加大输入电容
我们在很多ADC采样场合都看到ADC输入前端有一个电容,如果我们设定Rin非常小,忽略不计,那么这个电容有何作用呢?本文中,我们有一个推导公式:
由于在每个采样周期内,输入电容和采样电容的电压值都会相对固定,如果我们通过调整输入输入电容和采样电容的比值来调整 阶段的快速充电时间,这似乎不失为一个好办法。
但是,当输入电源发生变化的时候,由于采样电容吸收能力有限,采样端输入电容泄放又会遇到新的难题。同时,对于高频信号来说,电容越大,等效阻抗会更小。
所以,在采样端引入输入电容的时候,我们需要非常谨慎,这个电容大多数是用来做高频分量滤波用的。
三、增加驱动能力,重构输入阻抗
我们再回到第2阶段采样时间这个公式:
如果我们能够降低输入阻抗,就会大大缩短采样时间,目前增加驱动有两种主流方法:
种是用变压器来做驱动电路,这个方法有一个弱点,只能针对交流信号,对工作频率有要求,需要做匹配设计。
另一种方法是用运放做跟随器,这样可以大大降低信号端的内阻,大多数模拟前端都采用这种方法来做前端设计。
经过和客户确认,客户后来采用运放做跟随驱动的方法,重新测试一版,测试采样端波形如下图,从硬件电路来看,应该找到问题所在,目前还在验证中。
介绍
针对传感器市场,Microchip推出多种Delta-Sigma ADC,可以满足多种不同应用需求,特别是这么缺货的年代,
简介:
同时,Microchip也有多种运算放大器可以用来做前端设计,供大家选择。
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