MSP430F149内部基准测试报告

MSP430F149具备内部1.5V和2.5V的ADC电压基准，此文档为该电压基准的测量，本仅对所测样品负责。测试采用了FET示例代码，编译通过后用本站的MSP430 JTAG V3.3至F149，然后使用LM2825 DC-DC模块产生1.8-3.5V的直流电压给MSP430F149供电，MSP430F149焊接在本站的MSP430 QFP64 TO QSIP128转接板上，使用8MHz晶体振荡器，VREF脚通过一个16V 10uF的钽电容连接到地。

下面是测量数据：

1，2.5V基准测量数据：

供电电压： 测得基准电压：

2.801 2.479

3.002 2.480

3.293 2.485

3.505 2.487

2，1.5V基准测量数据：

供电电压： 测得基准电压：

1.800 1.480

2.002 1.481

2.199 1.482

2.500 1.483

2.708 1.483

2.801 1.483

3.003 1.484

3.299 1.485

3.497 1.487

MSP430F149数据手册中对于VREF的指标：

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测量设备和样品：

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测试代码：

#include "msp430x14x.h" // Standard EquatioNS

void main(void)
{
unsigned int i;
WDTCTL = WDTPW+WDTHOLD; // Stop watchdog timer
P6SEL = 0x01; // Enable A/D channel A0
// ADC12CTL0 = ADC12ON+SHT0_2+REFON+REF2_5V; // Turn on and set up ADC12,2.5V Internal REF
ADC12CTL0 = ADC12ON+SHT0_2+REFON; // Turn on and set up ADC12,1.5V Internal REF
ADC12CTL1 = SHP; // Use sampling timer
ADC12MCTL0 = SREF_1; // Vr+=Vref+

for ( i=0; i<0x3600; i++) // Delay for reference start-up
{
}

ADC12CTL0 = ENC; // Enable conversions

while (1)
{
ADC12CTL0 = ADC12SC; // Start conversion
while ((ADC12IFG & BIT0)==0);
_NOP(); // SET BREAKPOINT HERE
}
}

总结：

本测试中的MSP430F149的1.5V内部基准负偏了2/150=1.3%左右，2.5V内部基准负偏了2/250=0.8%，作为普通用途基本可以接受，和AVR系列的内部基准相比要好不少，但是如果应用在高测量设备中则1.5V基准有待改进，建议使用更高外部电压基准。

注意本测试仅针对本测试样品，本样品为TI提供的样品，可能性能上面也会有点不同，请读者针对自己实际使用的样品进行仔细评估，本仅提供一个参考值。

LM2825 DC-DC模块提供的直流电压的AC分量经FLUKE 189测量小于1mV。

感谢TI提供MSP430F149样品，感谢NSC提供LM2825样品。

测试温度：环境温度24度。

由于条件所限本测试未涉及到F149基准的温漂。

此MSP430F149的基准初始不是很高，而且随供电电压的变化也有不小的变化，同时温度漂移量也不是很理想，如果选其作为基准需要考虑工作温度范围、工作电压范围等诸多因素。

相关工具：

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