本测试是《MSP430F149内部基准测试》的续篇，样品和测试方法相同，电源置于烘箱外部，MSP430F149通过15cm左右的连接线和电源相连，电压测量在烘箱外部进行。
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输入电压Vin： 基准电压Vref @45℃
2.0000 1.4815
2.5004 1.4827
3.0001 1.4840
3.5020 1.4880
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输入电压Vin： 基准电压Vref @65℃
2.0001 1.4808
2.5002 1.4822
3.0008 1.4836
3.5011 1.4880/1.4881（跳动）
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输入电压Vin： 基准电压Vref @85℃
2.0000 1.4798
2.5003 1.4811
3.0001 1.4827
3.5010 1.4878
其中在3.5010V下还加测了如下数据：
1.4879@80℃，1.4879@75℃，1.4880@70℃
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总结：
1，可以看到随着温度升高基准电压下降；
2，在3.5V下的基准温漂，从45-85℃只有200uV的漂移；
3，在更低电压下，从45-85℃基准有1.3-1.7mV的变化，作为12BIT ADC，该1.3-1.7mV的漂移将带来额外的大于1LSB的误差，如果使用于高仪表请慎重考虑！
感谢TI德州仪器提供MSP430样品，感谢NSC美国国家半导体提供LM2825 DC-DC模块，感谢浙江立德提供测试设备，感谢浙江立德提供网站空间。
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