新系统采用算法，与传统的安捷伦Medalist 3070系统相比，把模拟测试吞吐量提高了50%。简单的图形用户界面采用专门设计，为快速发展的大批量制造环境中的操作人员提供了的简便易用性。
安捷伦Medalist i3070还包括业内率先提供的另一种技术：VTEP v2.0非向量测试技术，它采用新的NPM测量技术，主要用来检测连接器电源针脚和接地针脚上的缺陷。
电源针脚和接地针脚一直被视为非向量测试所无法覆盖的，因为电源针脚或接地针脚在设计上短路在一起，市场上目前提供的任何非向量测试解决方案几乎都检测不到此类针脚开路。安捷伦VTEP v2.0为克服这种测试局限性提供了创新解决方案。
通过简单的软件升级，现有Medalist ICT系统可以同时实现Medalist i3070和VTEP v2.0新功能。此外，为进一步保护现有安捷伦Medalist 3070和i5000用户的投资，新推出的Medalist i3070可以有效兼容传统安捷伦ICT系统，因此终用户可以轻松地在不同系统中实现相同配置。
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