白光干涉仪

  白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术,是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,,为韩国SAMSUNG全球指定供应商,LPL友好俱乐部成员,清华大学,台湾大学,首尔大学友好合作伙伴。

产品特点

  1、非接触式测量:避免物件受损。

  2、三维表面测量:表面高度测量范围为1nm-200μm。

  3、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。

  4、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达到0.1nm。

  5、高速数字信号处理器:实现测量仅需要几秒钟。

  6、扫描仪:采用闭环控制系统。

  7、工作台:气动装置、抗震、抗压。

  8、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算。

技术参数

技术参数

应用领域

  1、TFT产业

  2、半导体

  3、MEMS

  4、高校科研

  5、精密加工

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