供应镀层膜厚测厚仪

菲希尔镀层膜厚测厚仪*的设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等*和国际标准。 HELMUT *CHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有*过60年的经验。无论是涂层或电镀层的测量，都可以在菲希尔产品中找到适合的仪器。通过对*相关过程包括X射线荧光测量法的*处理和使用了*新的软件和硬件技术，*CHER公司的X射线仪器具有其*的特点。菲希尔镀层测厚仪采用**的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的*。它可以使仪器在没有标准片校准并**测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM? V.6软件）

菲希尔镀层膜厚测厚仪典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br*，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。

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