*CHER电镀厚度测量仪采用*数学计算方法和*新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,*的高科技X-射线技术的支持，可对膜层厚度，进行非破坏式的测量，*合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。 电镀厚度测量仪除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。*数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多至4层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.*/开放式的样品台,可测量较大的产品.采用模组形式设计，可以有很多种不同的配置，例如：不同设置的XY轴及Z轴，及一些*的测量室，来满足*的种品及一些高低位相差比较大的测量室。电镀镀层测量仪主要用于*氧化保护金属镀层的厚度测量及一些在五金件中装饰性电镀层，如铬层及镍层在铜材上的厚度测量。
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