供应XDLM-XYM系列金属镀层测厚仪

XDLM-XYM系列金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.*数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.*/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,*饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度.
金属镀层测厚仪可测元素范围：氯(CL) – 铀(U)

可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,*微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器

金属镀层测厚仪综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便*的控制品质.

欲知详细内容，请您来电！金霖电子 岳先生  手机：  ： FAX：    公司网址：www.kinglinhk.com    
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