日本KETT LH-200J 涂层测厚仪 膜厚计

日本KETT LH-200J 涂层测厚仪 膜厚计

特点：    本仪器采用了涡流测厚方法，可*的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

LH-200J测定方法高频涡流式测定对象非磁性金属上*缘层测定范围0～800um或0～32.0mils测定精度<50um&plu*n;1um       >50um&plu*n;2%分辨率<100um 0.1um    >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封*水按键附属品铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g