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德国菲尼克斯PHYNIX -surfix PFN内置探头两用统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
1.德国PHYNIX公司制造 2.碳化钨**测头,特快反应速度 3.同屏显示数据统计值 4.可存储前80个测值 5.可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层 6.量程1500μm,精度&plu*n;1μm 1%读数 7.分辨率0.1μm.背景光 9.有红外可接PC及打印机技术参数:
测量范围
0-1500µm,0 - 60mils
误差
&plu*n;(1µm 1%读数)
分辨率
0.1µm或小于读数的2%
显示
背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
基体*小面积
5mmX5mm
基体*小曲率
凸面:1.5mm 凹面:50mm
基体*小厚度
F型:0.5mm ,N型:50µm
校准
数据统计(*限统计型)
读数个数(*多9999个),平均值,标准偏差,*大值和*小值
数据存储(*限统计型)
*多80个测量数值,可单独调出
数据值(*限统计型)
上下限可调,声音报警
数据接口
红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度
0-50℃/60℃(可选配150℃)
电源
2节1.5伏七号碱性电池
仪器尺寸
107X50X25mm
*合标准
DIN,ISO,ASTM,BS
操作语言
英语、德语或法语
否
德国菲尼克斯PHYNIX
surfix PFN
0-1500µm
测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度
&plu*n;(1µm+1%读数)
0.1µm
107X50X25(mm)
0.1(kg)
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