Surfix easy I F 涂层测厚仪 膜厚仪 膜厚计 德国菲尼克斯PHYNIX

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德国菲尼克斯PHYNIX -  Surfix easy I F内置探头铁基易用型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

         .大测头座,易放稳
         .同屏显示测值,平均值等统计参数
         .可测铁基体上的涂层
         .量程3000(铁基3500)μm
         .精度&plu*n;3μm或3%读数,分辨率1μm
         .粉末喷涂,油漆,汽车,建材等行业的理想仪器

        技术参数:

测量范围

   钢铁基材:0-3500µm / 0-140mils有色金属基材:0-3000µm / 0-120mils

 允许误差

   2µm&plu*n;2% 读数/0.12mils&plu*n;2%读数

 分辨率

    1µm或小于读数的0.2%

 显示

   背景照明,四位读数显示,英文操作指南

 基体*小面积

    10mmX10mm

 基体*小曲率

   凸面:5mm凹面:50mm

 校准

   厂家校准,*校准

 操作温度

    0-60/32°-140°F

 仪器尺寸

    107mmx50mmx25mm

 重量

    90g/3.2z

 电源

    2AAA碱性电池

 保护等级

    IP52(*尘,*滴水)

 

 

深圳欧野电子有限公司

网址:www.ov17.com

是否提供**

品牌/商标

德国菲尼克斯PHYNIX

型号/规格

Surfix easy I F

测量范围

0-3500µm / 0-140mils

测定对象

用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。

测量

2µm&plu*n;2% 读数

分辨率

1µm

电源

2节AAA碱性电池

尺寸

107x50x25(mm)

重量

0.09(kg)