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产品属性
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x射线荧光分析仪特点:
分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;
荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;
分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差;
分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。
技术参数:
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | ||
分析元素 | Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型) | ||
Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型) | |||
检出下限 | Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm | ||
样品形状 | 最大460×380mm(高150mm) | ||
样品 | 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体 | ||
样品室气氛 | 大气 | ||
X射线管 | 靶材 | Rh | |
管电压 | 最大50KV | ||
管电流 | 最大1mA | ||
X射线照射径 | 1/3/5mm | ||
防护 | <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕) | ||
检测器 | 硅SIPIN探测器 | ||
光学图像观察 | 倍率15倍 | ||
软件 | 定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移) | ||
照射径:1/3/5mm | |||
定量分析:基础参数法/标准法/1点校正 | |||
计算机 | CPU | PentiumIV1.8GHz以上 | |
内存 | 256MB以上 | ||
硬盘 | 20GB以上 | ||
OS | WindowXP | ||
监视器 | 17寸LCD | ||
周围温度 | 10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度) | ||
周围湿度 | 5~31C时温度范围:最大相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下 | ||
电源 | AC110V/220V±10%、50/60HZ | ||
消耗电力 | 1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机) | ||
设备重量 | 约65kg(不含桌子、计算机) | ||
外形寸法 | 600(W)×545(D)×435(H)mm |
x射线荧光分析仪价格合理,该X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U.并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
iDEX-150MM
SENSE/善时