供应BGA152 flash测试座 清空座 老化座 烧录座 插座 适配座 ANDK

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供应各种flash测试座,BGA63,BGA100,BGA107,BGA137,BGA149,BGA152,BGA225,BGA224,TF24,TF22转48pin测试座*有现货供应

 

请注意,此款BGA152测试座是OPENTOP式(下压式),限位框不能更换,一个测试座只能测一种尺寸,请下单时务*告知您所要测试的BGA152芯片尺寸

我们另有可以自己更换限位框的BGA测试座销售,一个测试座可以兼容不同尺寸的芯片,请点如下链接购买:

https://item.taobao.com/item.htm?spm=0.0.0.0.UNepf7&id=

 

装针脚位图:

注意:此款测试座只有有用的88pin装针,其它空脚没有装针,不影响测试。
如果需要满pin的测试座,请和掌柜沟通。装针脚位如下:


 

BGA152芯片脚位图:

 

配板的测试座底部是转DIP48pin的,可以直接插在下面的“基于U盘的flash通用主控板”上进行测试和量产。主控板兼容设计,只要更换主控板的主控IC,可实现芯邦,安国,UT165,SMI,NETWORK方案互换


 


 

基于U盘的flash通用主控测试板购买链接如下:

https://item.taobao.com/item.htm?id=


ANDK测试座与日本某知名品牌测试性能对比:


 

产品主要功能:
※ 对Flash进行清空及分类挑选。
※  对Nand Flash进行格式化,测试实际可以用容量。
※ 对Flash进行直接量产,*U盘生产效率。

 

为什么要用到FLASH  IC测试夹具呢?
作用一:来料检测;IC的品质光凭肉眼是看不出来的,*须通过加电检测,用常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容等引脚参数,因没有验证IC的功能,也不能*判断IC的好坏;用IC测试治具通过U*线连接到电脑,通过量产软件直接判断IC的好坏。
作用二:返修检测;U盘组装好后出了问题,倒底是哪里出了问题?不好判断!有了IC测试夹具什么都好说,把拆下的IC放到测试夹具内通过测试就能排除是否IC方面的原因;
作用三:IC分检;返修的IC,在拆下的过程有可能损坏,用IC测试治具可以将坏的IC分检出来,可以节省很多人力、物力,从而减小各项成本。拿BGA封装的IC来说,如果IC没有分检,坏的IC
贴上经过F*测试检查出来后,把IC拆下来,要烘烤、清洗,很麻烦,还有可能损坏相关器件。用IC测试座检测就可以大减少出现上述问题的机率。
作用四:量产时FLASH  IC*格式化,可以大*生产效率,现在的FLASH IC容量越做越大,*格式化时间长,如果单颗来做效率*低,而我们推出的LGA
FLASH一拖四治具,一个治具可以同时测四个,一台电脑可以拖多台,*大地*生产效率。

 

型号/规格

BGA152

品牌/商标

ANDK