厂商供应可靠性测试系统-20路接触卡同测

QTG20-C是一款用于接触式智能卡的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备，与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用，为接触式智能卡提供了自动化测试解决方案。 适用于接触卡的可靠性测试、高低温测试等。

产品特性：

Ø  内置20路读卡器电路，支持20路7816接口同时测试

Ø  支持高低温测试环境，工作范围可达-40℃~＋125℃

Ø  支持标准卡、2FF/3FF/4FF、8PIN/6PIN条带、模块等多种封装

Ø  各路读卡器采用隔离设计，可快速定位失效的读卡器电路位置并检测信号

Ø  各路读卡器单独供电，可通过独立开关控制每路读卡器的工作状态

Ø  读卡器输出电压范围1.6V~5.5V，精度±10mV

Ø  读卡器输出频率可调，最高可达36MHz

Ø  各路读卡器设有自动过流、过热，过压保护装置