厂商供应可靠性测试系统-20路非接卡同测

QTG20-CL是一款用于非接触式智能卡模块/条带的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备，与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用，为非接触式智能卡提供了可靠性测试解决方案。

产品特性：

Ø  支持20路非接触式智能卡模块同时测试

Ø  特制测试座，支持XOAR2、双界面条带/模块等多种封装

Ø  输入1路USB口，内置20路USB转UART口，配合上位机软件可实现20路并行通信

Ø  内置20路PCSC非接触读卡器，支持标准14443TYPEA/TYPEB协议，且相互隔离

Ø  输出13.56MHz调制正弦波，电压幅度3.5V~6V可调；

Ø  使用50PIN高温插座，含20对屏蔽线（耐高温125C）

Ø  子板集成20路非接触卡模块测试座