供应可靠性测试系统-Flash芯片256路同测

    本产品一种通用的功能测试（FTG）系统，针对于EEPROM、Flash等产品的功能验证和可靠性测试，提供了一种友好的人机界面和快捷方便的测试分析工具。同时可应用于通用芯片或者电路板级产品的功能测试。

产品特性

l  软件界面管理测试用例/底层协议，无需学习ARM/FPGA编程，可在线调试和升级；

l  测试脚本可LOAD到主机，实现脱机自动测试并保存测试结果；

l  支持256路Flash高低温同测；

l  单板64个数字IO通道，2路模拟输入通道，2个可调电源，1个可调时钟；

l  电压可编程，0V~5.5V，精度+/-10mV；；

l  测试时钟可编程，最高20MHz；

l  存储容量4GB，支持循环命令，支持连续LOAD测试脚本；

l  含512条错误存储空间；

l  独立模块设计，可支持多个模块组成系统并行测试；

l  USB接口与PC机通信