GDS-80型高晶振阻抗测试仪

“GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪”详细介绍

一、 概述 

GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪以单片机为核心，进行功能切换，测量控制，数据处理。采用倒数测量计数技术，实现了全范围内的等精度测量。日稳5 10-7 / 日的恒温晶体振荡器，保证了测量数据的可靠性。  GDS-80型高精度晶振阻抗测试仪具有频率、周期、累计、ppm等测量功能，并根据用户的需要，可增添合适的功能。

二、使用的环境条件 工作环境温度：0 40℃相对温度：  90

三、技术参数 3.1 测量范围： 3.1.1 频率测量范围：0.1 Hz ~ 100 MHz 3.1.2 周期测量范围：10 ns ~ 10 s 3.1.3 计数容量：1 10 8 3.1.4 ppm：1ppm 3.2 动态范围：50 mV ～ 1.5 Vms 3.3 输入耦合方式：AC 3.4 闸门时间：0.01s 、0.1s 、1s（可设定） 3.5 准确度： 时基准确度 触发误差 被测频率（周期） LSO 其中LSO = （100 ns / 闸门时间） 被测频率 （被测周期） 3.6 时基： 3.6.1 标称频率：10 MHz 3.6.2 频率稳定度：5 10 7/d 3.7 显示： 九位LED数码管显示 3.8 电源： 220 V 22 V 50 H z 2.5 Hz 3.9 整机功耗： 10 VA 3.10 可靠性：平均无故障工作时间MTBF 10000 h