供应高32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪

高精度32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80

一、        产品简介

高精度32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。高精度32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。

高精度32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。高精度32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

二、        主要技术指标    

1.  中心频率范围： 20KHz-100MHz任意设定   

2.  负载电容：4-20P 任意设定

3.  负载谐振电阻：1Ω-300Ω  1K-300K

4.  PPm范围测量：±300ppm

5.  PPm测量精度：< 0.5ppm

6.  时基频率：16.384M    

7.  晶振稳定性：2×10-8 /日  

8.  体积：80×235×305（mm）

9.  保修期：三年

三、        特点

1.  阻抗值、ppm同时显示

2.  无需人工校对，直接测试多种参数

3.  新技术，符合IEC-444标准，满足国人需求，可替代进口设备

4.  LCD显示 

5.  PPm超标提示功能   

四、        仪器配置 

1. 高精度32.768KHz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80 1台

2.  电源线 1根 

3.  保修卡一张

4.  说明书 1份