为了促进国内集成电路测试技术交流，搭建相关方的合作平台，更好地支持集成电路产业发展，首届集成电路测试技术论坛于2008年8月28-29日在京成功召开。
首届集成电路测试技术论坛以“面向工程的集成电路测试技术”为主题，工业和信息化部科技局级调研员周健先生、国家科学技术部高技术发展研究中心张金国先生、国家863集成电路责任、清华大学教授王志华先生到场致辞。北京圣涛平试验工程技术研究院受邀进行了“集成电路器件试验检测故障覆盖率要求”大会报告。
参加本届论坛的听众主要是科研院所及测试和设计企业的技术工程师。这些单位包括：清华大学、北京大学、中科院计算所、中科院声学所、航天201所、公安部研究所、中科院微电子所、空间中心、北京电子技术研究所、北方工业大学、北京华大泰思特、北京华峰测控技术有限公司、中星微电子有限公司、大唐微电子杭州国芯科技有限公司、飞思卡尔半导体中国公司、晶宝利（北京）微电子科技有限公司、北京集创北方微电子技术有限公司等。
欢迎转载,信息来自维库电子市场网（www.dzsc.com）
免责声明: 凡注明来源本网的所有作品，均为本网合法拥有版权或有权使用的作品，欢迎转载，注明出处。非本网作品均来自互联网，转载目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。
