中国射频识别基准测试论坛即将举行提升RFID应用品质

　　经过近5年多的发展，国内RFID技术已由概念向政策、标准、产业全面发展，在由实验室走向应用场景的道理中，如何减少用户和行业的“试用”成本，定于2008年12月15-16日中国射频识别基准测试发展论坛暨中国射频识别基准测试联盟成立仪式以“协同发展；资源共享；展望未来”为宗旨，力图破解产业共性问题。

　　近年来，中国RFID技术已由最初的物联网概念向政策、标准、产业全面发展，在由实验室走向应用场景的道理中，如何减少用户和行业的“试用”成本，定于2008年12月15-16日在北京中国科学院自动化研究所学术报告厅举行的中国射频识别基准测试发展论坛暨中国射频识别基准测试联盟成立仪式以“协同发展；资源共享；展望未来”为宗旨，力图破解产业共性问题。

　　RFID技术被众多媒体和认为是21世纪的最有发展前景的信息技术之一。RFID技术以其独特的优势，显示出巨大的发展潜力与应用空间，但在现实中RFID技术仍然尚未走向大规模应用。造成这种现状的根本原因在于，无论RFID技术本身或是针对这项技术所衍生出的各种应用系统都还存在很多尚未解决的问题。

　　我们日常工作和生活中的各种电磁干扰、使用环境中的液体、金属、所识别物体的通过速度、读写器天线的角度，标签的贴覆位置都可能造成实验室中效果与现实场景中糟糕表现的反差。此外，RFID系统涉及微电子、通讯、自动控制、印刷、计算机硬件、软件多个学科，系统本身的复杂性也会带来的鲁棒性和稳定性的挑战。因此，在实际应用前对RFID设备性能、系统进行测试、通过检验，对用户最终的应用体验、应用效果和应用广度就显得尤为重要。

　　筹备成立的中国射频识别基准测试联盟(China RFID Benchmarking Test Consortium)致力于推进射频识别技术在中国的应用和发展，通过联合实施RFID基准测试，并对获得的测试数据进行科学分析，发布中国射频识别基准测试联盟测试报告，有利于加强我国射频识别产业单位间交流与合作，避免重复工作，推进RFID基准测试标准的建立。

　　联盟的宗旨是联合国内致力于射频识别与电子标签基准测试的研究机构，与RFID行业制造商、集成商及用户代表一道，共同推动定立相关的技术标准，带动产业发展与应用推广，在平等互利、优势互补、资源共享、合作共赢的原则下，积极推动射频识别技术与电子标签产品的自主创新与科学发展。

　　本次论坛将进行业界的技术报告和产业界的情况报告，还将邀请国际知名仪器厂商Agilent、Tektronix、NI进行RFID协议一致性测试解决方案的现场演示。

　　论坛时间

　　2008年12月15日，9:00-17:00，上午8:30报到。

　　2008年12月16日，9:00-13:00，上午8:50报到。

　　举行地点： 北京市海淀区中关村东路95号，中国科学院自动化研究所自动化大厦学术报告厅

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