在过去几个月中，我们已经见到来自许多供应商的零参数值模拟器件，包括零漂移仪器放大器(TI)、自动调零比较器(飞兆)、零偏移运放(Mirchip)和零中频下变频器(ADI)。即使这些器件没有达到完美的“零”，它们也已非常非常接近零。即使难以描述的零功率IC对一些基本模拟器件来说也渐行渐近。
那么究竟发生了什么事呢？首先，争取完美是自然的工程技术趋势。对于许多模拟参数，如漂移、漏电流、偏置电流或偏移，零是我们追求的理想规范。尽管工程师必须在可达到的性能和成本及许多其它因素之间取得平衡，但他们仍有趋于完美的设计冲动，哪怕只是在一两个方面。
确实，工程师有时做事情主要是因为他们能做和想做，结果就使得一些参数先前还是先进技术的体现后来却被视为必备性能。当然，IC工艺技术的改进和深度物理层的相关器件建模也有助于使这些成果转化成产品。
还有一些更加浅显的道理起着推波助澜的作用。IC制造是一种商业行为，供应商知道，在许多情况下，他们的用户愿意为那些关键参数为零或接近零的产品支付从适度到很高的额外费用。
例如，一个漂移随时间和温度变化接近零的传感器信号放大器不再需要在工厂调整，而这种调整过程通常是要求在设计和材料清单中增加电子或机械调整电位计。更重要的是，它能完全消除额外的现场校准过程，事实上现场校准过程对用户来说通常很难，而且不。
不过如果不能有效地完成测试，即使是的零设计也无法正常工作，这是零指标产品成功真正的关键所在。在小批量平台装置中很难测试这种性能，在较大批量生产环境中确实也很难去做。正如测试工程师想要提醒我们的那样，测试知识是一个成功高性能产品背后隐藏的真正秘诀，特别是具有零指标值的产品。
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