普通达林顿三极管的检测电路

出处:维库电子市场网时间:2024-05-28
  普通达林顿三极管的检测电路
  普通达林顿三极管内部由两只或多只晶体管的集电极连接在一起复合而成,其内部路结构如图6—26所示。由图6—26可知它的基极b与发射极e之间有两个发射结。检测可使用万用表的R×1k挡来测量。
  测量达林顿三极管各电极之间的正、反向电阻值。正常时,集电极c与基极b之间的向电阻值(测NPN型管时,黑表笔接基极b:测PNP型管时,黑表笔接集电极c)与普避晶体管集电结的正向电阻值相近,为3~10k2,反向电阻值为无穷大。而发射极e与极b之间的正向电阻值(测NPN型管时,黑表笔接基极b:测PNP型管时,黑表笔接发极e):是集电极c与基极b之间正向电阻值的2~3.倍,反向电阻值为无穷大。集电极c发射极e之间的正、反向电阻值均应接近无穷大。若测得达林顿三极管的c、e极间的正、向电阻值或b、e极,b、c极之间的正、反向电阻值均接近0,则说明该管已击穿损坏。若测达林顿三极管的b、e极,b、c极之间的正、反向电阻值为无穷大,则说明该管已开路损坏。
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