低成本 BER 测试仪测量低数据速率应用中的错误

出处:维库电子市场网时间:2023-07-28
     Atmel AVR 微控制器创建 PRBS 信号,并将生成的输出流与接收到的数据位进行比较(图1)。发送 100 万位后,系统会在 2 行 x 16 字符 LCD 上显示接收错误的位数。您可以对设备进行编程以传输更长的位序列;然而,这样做会显着增加测量时间。许多低成本或的开发工具可用于 AVR 微控制器。该设计理念使用汇编器和串行编程器(参考文献 2 和 3)。
  

    该设计使用 8 位斐波那契型 LFSR(线性反馈移位寄存器)来生成 PRBS 流。基本设计包括一个使用 XOR 指令进行模 2 加法的串行移位寄存器(图 2)。您选择反馈抽头的位置以获得周期为 2 8 –1 位的长度序列。还提供不同长度和反馈抽头的其他 LFSR 设计(参考文献 4)。您可以轻松地调整清单 1中的软件  来生成周期较长的 PRBS 信号。为AVR微控制器编写了简化的汇编程序流程图(图3)。

    线性反馈移位寄存器图 2线性反馈移位寄存器生成伪随机位序列。

    BER测试仪的程序子程序流程图图 3简化的流程图说明了 BER 测试仪的程序子例程。    生成的位序列出现在引脚端口 A1 处,您可以将其连接到适合被测系统的发射器。将方便接收器的数字输出连接到引脚端口 A4。处理器将接收到的输入与端口 A1 上两个“发送”位之间的输出进行比较。当发送和接收的位不匹配时,显示的错误数量会增加。如果系统出现吞吐量延迟,则需要修改软件以应对延迟。
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