共源共栅 GaN 的结构如图 1 (a) 所示,在共源共栅配置中结合了低压常关硅 MOSFET 和高压常开 GaN HEMT。该组合有效地产生了增强模式行为,并且该技术自 2010 年代初期以来已投入商业应用。与原生 GaN 解决方案相比,硅 MOSFET 的公共栅极阈值电压为 4V,简化了栅极驱动要求,因为这些共源共栅 GaN 通常可以使用标准硅栅极驱动器进行驱动。此外,硅 MOSFET 的混合特性可以提高可靠性。可以利用硅的已知特性和行为来保护 GaN HEMT 更敏感的栅极,从而降低因高电压尖峰或不正确的栅极电压而导致故障的风险。
图 1. (a) 共源共栅 GaN 和 (b) E 模式 P 栅极 GaN HEMT 之间的原理图比较。图片由博多电力系统提供 [PDF]根据图 2(b)所示的 LTSpice 仿真结果,P2P GaN 开关的栅极阈值电压已提高至 4 V 左右,并且其栅极电压已被 All-GaN-IC 适当钳位在 7 V 以下,0 -20V 脉宽调制输入。
图 2. (a) 框图和 (b) 与主 E 模式 p 栅极 GaNFET 单片集成的栅极调节器电路的模拟验证。图片由博多电力系统提供 [PDF]图 3 所示的室温实验静态 IdVg 测量结果也验证了与不带基于 GaN 的栅极调节电路的普通 E 模式 GaN 相比,P2P GaN 的栅极阈值电压 (3.6 V) 的增强。
图 3. 650V 30A E 模式 GaN HEMT 之间的 Ids-Vgs 测量比较(a)不带单片集成栅极稳压器电路和(b)带单片集成栅极稳压器电路(即 P2P 技术)。图片由博多电力系统提供 [PDF]构建了具有高饱和环形功率电感器和恒定 40 欧姆高功率电阻负载的 100 KHz 半桥降压测试平台,用于 P2P GaN 的连续硬开关评估。主测试板上安装了两台带有合适散热器的GP65R45T4器件,测试过程中采用了适当的风扇冷却。
图 4. 33 A 漏极电流和 900 V 总线电压下的双脉冲测试 (DPT) 结果表明,在 (a) 25°C 和 (b) 125°C 下均具有良好的开关性能。图片由博多电力系统提供 [PDF]根据图 5 (a) 所示的效率,在 12 V PWM 输入和 200-550 V 总线电压下,基于 P2P GaN 的降压转换器实现了 97.42% 的峰值效率和 3.7 kW 的功率输出。图 5 (b) 展示了良好的连续开关波形,在 450 V 总线电压的峰值效率下没有明显的振铃和过冲。
图 5. 风冷半桥降压转换器的 (a) 开关效率和 (b) 开关波形,其中两个 GaNPower P2P GaN HEMT (GP65R45T4) 正在进行连续硬开关测试。图片由博多电力系统提供 [PDF]免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。