常用电子元器件故障规律总结

　　下面这篇文章主要介绍电子元器件故障规律的总结，通过工程师的一些实际应用的总结的，非常有实质性的学习文章。

　　1.电阻损坏的特点

　　电阻是电器设备中数量多的元件，但不是损坏率的元件。电阻损坏以开路，阻值变大较少见，阻值变小十分少见。的有碳膜电阻、金属膜电阻、线绕电阻和保险电阻几种。前两种电阻应用广，其损坏的特点一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ)的损坏率较高，阻值(如几百欧到几十千欧)的极少损坏;二是低阻值电阻损坏时往往是烧焦发黑，很发现，而高阻值电阻损坏时很少有痕迹。线绕电阻用作大电流限流，阻值不大。圆柱形线绕电阻烧坏时有的会发黑或表面爆皮、裂纹，有的没有痕迹。水泥电阻是线绕电阻的一种，烧坏时会断裂，否则也没有可见痕迹。保险电阻烧坏时有的表面会炸掉一块皮，有的也没有什么痕迹，但绝不会烧焦发黑。根据特点，在检查电阻时可有所侧重，快速找出损坏的电阻。

　　2.电解电容损坏的特点

　　电解电容在电器设备中的用量很大，故障率很高。电解电容损坏有以下几种表现：一是失去容量或容量变小;二是轻微或严重漏电;三是失去容量或容量变小兼有漏电。查找损坏的电解电容方法有：

　　(1)看：有的电容损坏时会漏液，电容下面的电路板表面甚至电容外表都会有一层油渍，这种电容不能再用;有的电容损坏后会鼓起，这种电容也不能继续使用;

　　(2)摸：开机后有些漏电严重的电解电容会发热，用手指触摸时甚至会烫手，这种电容更换;

　　(3)电解电容内部有电解液，长时间烘烤会使电解液变干，导致电容量减小，要重点检查散热片及大功率元器件附近的电容，离其越近，损坏的性就越大。

　　3.极管等半导体器件损坏的特点

　　二、三极管的损坏是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现：一是热稳定性变差，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿;另一种是PN结的特性变差，用万用表R×1k测，各PN结均正常，但上机后不能正常工作，用R×10或R×1低量程档测，就会发现其PN结正向阻值比正常值大。测量二、三极管可以用指针万用表在路测量，较准确的方法是：将万用表置R×10或R×1档(用R×10档，不明显时再用R×1档)在路测二、三极管的PN结正、反向电阻，正向电阻不太大(正常值)，反向电阻足够大(正向值)，表明该PN结正常，反之就值得怀疑，需焊下后再测。这是电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧，用万用表低阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。

　　4.集成电路损坏的特点

　　集成电路内部结构，功能，一部分损坏都无法正常工作。集成电路的损坏也有两种：彻底损坏、热稳定性不良。彻底损坏时，可将其拆下，与正常同型号集成电路对比测其每一引脚对地的正、反向电阻，总能找到其中一只或几只引脚阻值异常。对热稳定性差的，可以在设备工作时，用无水酒精冷却被怀疑的集成电路，故障发生时间推迟或不再发生故障，判定。通常只能更换新集成电路来排除。