GBT 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

时间:2014-06-23

  本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。

  本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)提出并归口。

 

 

 

 

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