超高速转换器ADC08xxxx系列的校准

　　1.0 引言

　　千兆采样速率ADC的A D C 0 8 x x x x 系列（ 例如 ADC08D1500）内部集成了精密的自校准电路。这种特性是 此款器件在宽温度范围内显著性能中的重要部分。本文旨在 为系统设计师全面描述如何充分利用这种特性。器件的数据 手册包含了自校准在不同方面的详细内容，所以用户也可参 阅数据手册。

　　2.0 自校准方案

　　由于校准对于表述的性能非常重要，因而在每次上电开 始器件要执行自校准。此外，在需要的情况下还允许用户可 通过手动命令来执行器件的自校准。一般仅当系统温度的变 化已超出系统设计确立的阈值时才会执行这项操作。因为 终还是器件本身的温度对其性能造成影响，用户可将芯片上 的二极管连到一个外置温度传感器，从而能.件温度。 美国国家半导体推荐LM95221(或其它类似产品)温度传感器 来实现这项功能。

　　无论是根据上电抑或是根据指令，校准程序约需1－2 毫秒时间，具体取决于时钟频率和特定的器件（参考器件的 数据手册和在本文中提到的所有其它参数）。此外，仅在上 电时，器件会在启动自校准程序之前插入一个时延。对于这 一延迟，用户可选择相对较短（几十毫秒）或相对较长（几 秒）的延迟。这种延迟的目的是允许电源和其它的变量保持 稳定。注意，当器件配置为扩展控制的工作模式时无法提供 较长的时延（例如，通过串行接口配置）。同时也应注意器 件延时计数器，只有当时钟输入有效时才开始计数。

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