从上面的调试接口示意图可以知道,JTAG测试信号由下面5个信号组成。
TRST:测试复位输入信号,测试接口初始化
TCK:测试时钟,在TCK时钟的同步作用下,通过TDI和TDO引脚串行移入/移出数据或指令;同时,也为TAP(测试访问端口)控制器的状态机提供时钟。
TMS:测试模式选择信号,控制测试接口状态机的操作。
TDI:测试数据输入线,其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器(由TAP控制器的当前状态及己保存在指令寄存器中的指令来控制)。
TDO:测试数据输出线,把从边界扫描链采样的数据传输至串行测试电路中的下一个芯片。
JTAG可以对同一块电路板上多块芯片进行测试。TRST、TCK和TMS信号并行至各个芯片,而一块芯片的TDO接至下一芯片的TDI。JTAG的时序图如图所示。
图 JTAG时序图
免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。