1----测试简介
2----测试硬件简介－－－
测试机(tester)
3----测试硬件简介－－－测试手臂(handler and prober)
4----测试硬件简介－－－
探针卡(prober card)
5----测试硬件简介－－－
测试座(socket)
6----测试硬件简介－－－
测试板(loadboard and WPI)
7----测试方法简介－－－开短路测试(openshort)
8----测试方法简介－－－漏电路测试(Pin leakage)
9----测试方法简介－－－level测试(VIL/VIH,VOL/IOL,VOH/IOH)
10----测试方法简介－－－
电源电流测试(IDD)
11----测试方法简介－－－AC测试
12----测试方法简介－－－功能测试(fouctional test)
13----测试方法简介－－－扫描测试(scan test)
14----测试方法简介－－－自建测试(Bist test)
15----测试方法简介－－－混频测试(ADC)
16----测试方法简介－－－混频测试(DAC)
17----测试程序开发(test program create)
18----测试开发－－－基于缺陷开发final test 程序技术(Dot-FT)
19----测试开发－－－多头测试技术(Multi-sites test)
20----测试开发－－－多核测试技术(Multi-ports test)
21----如何Debug
