对于0.18微米及更小线宽的模拟/混合信号
设计来说，高寄生参数提取、模拟
IR-
drop分析和功率网格电迁分析已成为电路
设计和全
芯片电气验证的关键。新推出的Virtuoso
AMS 硅分析（Silicon Analysis）产品将所有这些功能与
设计规则检验（DRC）和版图与原理图之间检查（LVS）有机地结合起来。这种新的Virtuoso HF AMS 硅分析（Silicon Analysis）产品增加了
电感提取、电迁移和高频（＞1GHz）模拟/混合信号
设计的场分析器。借助这些功能，
设计队伍便能迅速对进行硅分析，从而避免耗资巨大的计划外返工。
