一种新的元器件可靠性评估方法———结构分析(CA)

时间:2007-04-29

一种新的元器件可靠性评估方法———结构分析(CA)
A New Method for Reliability Evaluation of Device———Construction Analysis (CA)

张延伟,江理东,陈志强
ZHANG Yan-wei,JIANG Li-dong,CHEN Zhi-qiang

关键词:结构分析; 可靠性;元器件
Keywords:construction analysis; reliability; device



摘要:结构分析(CA:construction analysis )是一种通过对元器件的结构进行一系列深入细致的分析来确定元器件的结构是否存在潜在的失效机制的方法。通过CA可以评估制造商的设计能力和工艺水平,也可以确认元器件的结构是否能够满足特定的应用环境要求。CA对应用于高可靠领域内的元器件的质量保证尤为重要。
Abstract:Construction analysis (CA) is a method to determine if the construction of device have the latent failure mechanism through a series of analysis. CA can evaluate the capability of design and the level of workmanship. In the other way CA can determine if the construction of device can meet the requirement of the particular usage environment. CA is very important for the device using in high relibility applications.



  
上一篇:MOS管原理
下一篇:富士通的ARM9多CPU评估器件可用于实现下一代SoC平台

免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。

相关技术资料