混合IC测试系统有效降低测试成本

Credence推出的Sapphire D-10是为满足 消费电子产品市场的低成本测试需求而设计的混合信号IC测试系统。Sapphire D-10是一个高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，该方案是为微控制器、无线基带、显示驱动器和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而特别设计的。它具有集成度高、体积小、模块化、较高的并行测试能力等特点。

紧凑、高集成的设计平衡成本和性能——Sapphire D-10体积小巧，比一台中型个人电脑大不了多少，它不需要任何复杂的固定器械和环境设施，把它支起来，插上电源就能马上使用，因而具有很好的便携性，同一平台既能应用于桌面的调试开发和特性分析，也能应用于量产测试。

Sapphire D-10含有高密度和高效的数字、模拟和电源通道。它支持768个数字通道和16个电源通道。同时其集成的混和信号技术在同一仪器上就能提供应对高和高频率的方法。对于大范围的产品测试来说，一个宽频、高效的设备能有效降低测试成本。在多种芯片需要同时被测试的情况下，采用一款这样的系统能大大节省用户的测试成本。

高密度数字仪器、多频段混和信号仪器也使得测试系统的配置简化，因为需要更少的仪器来达到需要的测试能力。高集成的设备也更简化了负载板、docking接口和manipulator接口的设计。高集成度同时也能大幅减少设计时需要的元件，终降低测试平台的成本。而且，更少的元件意味着更高的稳定性和更短的停机时间，从而进一步降低客户总的测试成本。

并行测试能力加速高量产测试——并行测试是通过同时测试多个芯片来降低测试成本的有效方法。Sapphire D-10多能进行256个芯片同测。而且非常适合多site圆片测试，因为它能提供768个200Mbps的数字通道和高集成度的模拟和数模混合仪器。许多传统的测试系统在测试数字器件时能提供较高的并行效率，但测试模拟和混合信号器件时会大大降低。这通常是由于本地或远程的大量的数据传送处理而造成的。Sapphire D-10的交换式数据传输（switched data link）专为解决这个问题而设计，它能快速地传送大的数据包，并高效地进行处理。

采用业界标准的模块化架构具有很大灵活性——可再配置的Sapphire D-10测试系统能灵活应对多种类产品测试，优化使用工厂或实验室空间。拥有十个可互换的仪器插槽，开放式结构支持即插即用(plug and play)以及通用插槽功能，使得从工程应用到产品并行测试或从数字到混和信号应用非常易于拓展。

该系统的仪器都兼容cPCI 背板协议，因而具有很大的灵活性。基于这个开放式的架构，用户能方便使用第三方成熟仪器定制自己的配置，进一步拓展了平台的灵活性和生命周期。同时，用户可通过集成自定制仪器到平台中来实现一些特殊功能和特性分析测试的需求。

此外，Sapphire D-10具有高速的底层数据交换网络，使数据能够以500M字节/秒的速度在整个系统内传输，同时又不明显增加主机负担。Sapphire D-10还有一整套为测试程序开发、调试、产品特性分析以及量产而设计的专用软件。它的软件采用开放式结构，很容易访问底层代码，方便自定制程序编写。D-10有自带的产品测试界面，但同时也允许客户和现场人员设计自己的界面，在工厂进行无缝连接。