吉时利仪器公司(Keithley)，宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在4200-CVU的创新设计中采用了先进的高性能电路，有8项正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实现级的C-V测量。
4200-CVU附带完整的测试库，极大提高了测量效率。如果与吉时利4200-LS-LC-12结合使用将实现更高测量效率。 4200-LS-LC-12是带有
电缆和
适配器的专用
开关矩阵卡，通过单针探测能实现高度集成的C-V/I-V测试。4200-PROBER-KIT为可选模块，使用该模块能轻松将4200-SCS与各种广泛使用的
探头相连，终帮助用户如I-V测试一样轻松配置和执行功能全面的C-V测试。
吉时利公司4200-SCS支持利用各种第三方测试设备进行C-V/I-V/脉冲测试的测试方法。这些特点使得4200-SCS/CVU非常适合于：半导体技术研发 、工艺研发和可靠性研究实验室；材料与器件研究实验室和机构；需要台式DC或脉冲测试设备的实验室；需要体积小而功能多、仪器多的非实验室与用户。
吉时利对4200-SCS用户提供持续软硬件升级服务，这意味着4200-CVU模块及其所有相关软件和可选硬件都能够兼容早期的4200-SCS系统。由此，用户完全无须因为设备或材料技术的更新而频繁购买新的参数化
分析仪。通过低成本升级，4200-SCS系统能够满足技术进步带来的测试需求。
