开关损耗

开关损耗是指在电力电子开关器件(如MOSFET、IGBT)中,由于电路开关动作引起的能量损耗。开关损耗是电力电子装置效率低下的主要原因,因此如何有效减小开关损耗一直是电力电子领域研究的重点。

介绍

开关损耗是指在电力电子设备中,由于器件内部导通和截止所产生的不必要的能量损失。当器件从导通状态向截止状态转换时,如果不能立即消耗电流和电荷,就会出现存储电荷或电流的情况。随着器件的反向偏置加剧,这些储存的电荷和电流会被释放,并在芯片内部吸收能量从而造成了开关损耗。

原因

开关损耗的主要原因有:

减耗方法

为了减小开关损耗,可以采用以下方法:

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