智能介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，智能介质损耗测试仪用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）测量。
智能介质损耗测试仪仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗干扰能力强、测试速度在国内同类产品中最快的优点。
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路：
1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品电容容值（CX）和其介质损耗（tgδ）。
2、数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽，仪器外壳地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、精确、可靠。
1、环境温度：0 ～40℃
2、相对湿度：30% ～70%
3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz
4、外形尺寸：500mm×300mm×400mm
5、重量： 约18Kg
6、输出功率：0.6KVA
7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）
8、测量范围及输出电压选择：
介质损耗（tgδ）：±0.00～±999%
试品电容容量（Cx）和加载电压：
2.5KV档:≤300nF（300000pF） 3KV档:≤200nF（200000pF）
5KV档:≤76nF（76000pF） 7.5KV档:≤34nF（34000pF）
10KV档:≤20nF（20000pF）
9、基本测量误差：
介质损耗（tgδ）：1%±7个字（加载电流20uA～500mA）
介质损耗（tgδ）：2%±9个字（加载电流5uA～20uA）
电容容量（Cx）：1.5%±1.5pF
