比表面测试仪称间比表面仪，比表面积分为内比表面、外比表面、和总比表面；通常未注明情况下粉体的比表面是指单位质量粉体颗粒外部表面积和内部孔结构的表面积之和，单位m2/g。
) 采用直接对比法，测试速度快，有利于生产现场快速检测；
1. 测试系统中加入滤波稳流系统，抗干扰能力强，稳定性高，不会出现市场上同类产品频繁死机现象；
2. 通过采用并联气路，可同时进行3个样品的比表面积测定，大大提高测试效率；
3. 独立的样品脱气及预处理系统，可减少样品处理对测试系统的干扰和损害；可根据样品不同选择合适的处理方式，预处理和测试可同时进行，提高工作效率。配以我公司研制的样品预处理装置—JW吹扫机，可实现市场同类动态法产品无法实现的真空处理；
4. 动态测试方法过程十分直观，可以观察到不同氮分压条件下，氮吸附和脱附的全过程，测试程序手动和自动控制有机结合，有利于对测试过程的灵活掌控；
5. 配套软件由我公司自主开发，功能完善，操作简单，软件无需安装，拷贝后即可直接运行，减少了对计算机系统的依赖性；同时数据归档系统能将客户的每次测试结果及时保存到统一的数据库，有利于客户测试数据的积累、统一管理和后期查询分析。
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t－plot图法外比表面积测定；
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)；
测量精度:重复性误差小于1.5[%]；
真空系统:V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命；
液位控制:V-Sorb的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差；
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命；
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理；
压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显着提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa)(可选)
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10[%]-15％)；
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995；
极限真空:4x10－2Pa(3x10－4Torr)；
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等；
测试气体:高纯N2气(99.999[%])或其它(按需选择如Ar,Kr)；
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强；
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表。
比表面测试仪广泛应用于石墨、电池、稀土、陶瓷、氧化铝、化工等行业及高校粉体材料的研发、生产、分析、监测环节。
