粒度仪

    粒度仪可分为纳米粒度仪,激光粒度仪,单颗粒光阻法粒度仪和图像粒度仪等。

    粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。


JL-1177型全自动激光粒度仪

    ◆测量范围: 0.046μm~600μm,不分档,全量程测试。

    ◆应用范围:化工、核工业、电子、电池材料、造纸、冶金、陶瓷、建材、化妆品、磨料、医药、涂料、水泥、食品、农药、金属与非金属粉末、碳酸钙、滑石粉、高岭土、钛白粉、氧化铝、稀土、硬质合金、催化剂、发泡剂、云母、耐火材料、填料、石墨、颜料、等各种行业粉料、乳液的粒度测试。

    ◆测试原理:散射、衍射原理、全量程米氏( Mie)散射理论和专有技术计算。

    ◆信号光源:氦氖激光器作为主光源,波长:0.6328μm,使用寿命达到5年以上,实际使用基本达10年以上。紫光为辅助光源。

    ◆探 测 器:采用大角度大规模集成电路多元专用探测器,80级的通道数,对前向、侧向和后向的散射信号进行全方位的探测。

    ◆测试精度:集光学、电路、样品超声分散、循环、清洗一体化结构,样品在管道内的流动时间短,避免了样品分散后的分层和重新团聚。重复性、稳定性达到国外同类型仪器测量水平,D50粒径重复性误差达到1%

    ◆测试方法:计算机控制全自动操作,只需按一个键, 样品分散池内会自动进水,当电脑提示加粉,操作员将1g左右的样品放进分散池后,超声波自动分散搅拌后,再循环到测试区域,电脑自动分析处理,1分钟内结果显示。也可以数据库和文本文件等多种形式保存。

    ◆测试软件:在Windows98/2000/XP系统下运行,操作界面友好,菜单提示完整,结果以粒度分布数据表格和曲线图显示,同时提供 D10、D50、D90、D97、体积平均粒径(D4,3)、面积平均粒径(D3,2)、比表面积、自由分布、对数正态分布、R-R分布等多种分布模式,有中英文版本格式,供用户选择使用。

    ◆工作电源:交流 220V ±10% 50Hz 300W

    ◆仪器外形:840×370×450(mm) 重量:约80kg


亚筛分粒度仪 H.E.L. SubsieveAutoSizer

    产品简介

    通过气体渗透法测量粒度,采用了广为应用的FSSS(费歇尔95型亚筛分筛子)的技术,并在此基础上升级:增加了自动化功能,电子文档记录以及数据显示功能。

    技术参数

    ·控制软件-HEL控制软件可实现仪器运行、数据采集和处理,报告和系统集成设置。

    ·快速和方便的设置-简单的逐步设置,易于遵循,确保没有漏掉参数

    ·Easy模式-一按“开始”按钮,即可运行预先设定好的所有参数。

    ·实时数据显示-可通过一个简单的方式查看实时数据

    ·报告生成-公司的logo、打印格式、版式均可添加到报告中

    ·安全性-可选的密码保护将样品测试结果与用户ID绑定,确保检测结果不被更改


全自动Χ光沉降粒度分析仪 SediGraph Ⅲ Plus

    产品简介

    麦克默瑞提克(上海)仪器新一代的粒度仪将成熟的SediGraph分析技术与的检测仪器功能相结合,提供的重复性、准确性和重现性。SediGraphIII通过X射线吸收测量样量,利用标准的沉降法测量粒度,无需建模。该产品的技术已成为造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。

    SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。

    技术特点

    高精度X射线管,7年保修

    简化的泵系统,确保快速分析并易于维护

    低噪音,提供安静的工作环境

    维护提醒装置,根据已分析的样品数自动提醒维护

    混合室温度电脑控制,提高重复性与重现性

    多功能报告系统可提供包括颗粒沉降速度和粒度等多种数据显示选项

    操作软件可连接网络,提供选择、网络化、打印机选择、剪切和粘贴等功能

    完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等标准

    产品应用

    适合于各种无机材料颗粒大小的分析研究尤其是非金属矿物,例如:高岭土、重钙、轻钙、粘土、泥浆等材料的分析,是高岭土,重钙,轻钙粒径的标准分析仪器。


数字式激光粒度分析仪 Saturn DigiSizer II

    产品简介

    麦克默瑞提克(上海)仪器新一代的粒度仪将成熟的SediGraph分析技术与的检测仪器功能相结合,提供的重复性、准确性和重现性。SediGraphIII通过X射线吸收测量样量,利用标准的沉降法测量粒度,无需建模。该产品的技术已成为造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。

    SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降,即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下,报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。

    技术特点

    高精度X射线管,7年保修

    简化的泵系统,确保快速分析并易于维护

    低噪音,提供安静的工作环境

    维护提醒装置,根据已分析的样品数自动提醒维护

    混合室温度电脑控制,提高重复性与重现性

    多功能报告系统可提供包括颗粒沉降速度和粒度等多种数据显示选项

    操作软件可连接网络,提供选择、网络化、打印机选择、剪切和粘贴等功能

    完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等标准

    产品应用

    适合于各种无机材料颗粒大小的分析研究尤其是非金属矿物,例如:高岭土、重钙、轻钙、粘土、泥浆等材料的分析,是高岭土,重钙,轻钙粒径的标准分析仪器。

    产品简介

    这种新型的激光粒度分析仪同纳米粒度仪和zeta电位一样是麦克默瑞提克(上海)仪器采用的CCD光学技术和数字信号处理技术,具有极高的分辨率、精度和重复性。即使对于极复杂的样品,较高的粒度分辨率也可显示其他激光粒度仪很难发现的信息,提供更准确的结果。此外,仪器的测量速度快,测量结果重现性好,使用不同的Saturn?DigiSizer激光粒度仪,在范围内均可得到可重现的实验结果。

    技术特点

    ·测量范围:0.04to2500μm

    ·液体样品处理单元进行全自动样品制备、稀释和分散。可选标准配置或小体积配置

    ·可选符合FDA要求的Confirm21CFRPart11软件。可提供IQ和OQ认证服务,确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

    ·选配的MasterTech052自动进样器提供多至18个样品的自动进样,无需人为介入

    ·配备多达340万个检测元素的专利高精度动态航天级CCD检测器


电阻法颗粒计数与粒度分析仪Elzone II 5390

    产品简介

    与其他测量技术不同,电阻法能测量不同光学性质、密度、颜色和形状的样品。新的ElzoneII5390是麦克默瑞提克(上海)仪器采用了这一强大的颗粒表征技术来确定有机或者无机材料颗粒的大小,数量浓度与质量。仪器的测量粒度范围(>400nm)适用于各种工业,生物和地质样品。分析简单快速、体积小巧的Elzone?II适用于工业质量控制与研发实验中高精度高分辨率的颗粒表征。

    技术特点

    ·可使用不同导电性的液体,无需知道粘度

    ·无需了解材料的密度、折射率等性质

    ·仪器全自动功能包括启动,运行和关闭程序;检测和清除堵塞;冲洗/清洗和校准

    ·粒径分析范围0.4-1200微米

    ·体积浓度1-1000ppm(0.1%)

    ·感应率1-5000个颗粒/秒

    ·法拉第屏蔽避免外界对电子检测器的电子干扰

    ·在电子干扰小的地方可进行开放式操作

    ·样品的颜色和折射率不会影响操作

    ·自动障碍物检测和清除功能

    ·可准确轻松分析低质量样品

    ·可提供IQ、OQ认证文件可选满足FDA的要求的Confirm21CFRPart11的软件。IQ和OQ认证服务,确保该系统的准确性,可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

    产品应用

    用于分析有机或者无机材料颗粒的大小,数量浓度与质量,适用于分析同时具有光学性质、密度和形状的样品。


粒度仪粒径

    X10:颗粒累计分布为10%的粒径,即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%。

    X50:颗粒粒径分布为50%的粒径,即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%。

    X90:颗粒粒径分布为90%的粒径,即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%。

    Xav:颗粒群的平均粒径。

    S/V:体积比表面积,即单位体积颗粒的表面积。

    X[3,2]:表面积平均粒径,是粒径对表面积的加权平均,又称索太尔平均径。

    X[4,3]:体积平均粒径,是粒径对体积(或重量)的加权平均,颗粒群的平均粒径。


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