薄膜测厚仪

薄膜测厚仪,又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

设备用途

塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均,会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。

分类

  薄膜测厚仪根据其测量方式的不同,可分为:
  接触式薄膜测厚仪:点接触式,面接触式。
  非接触式薄膜测厚仪:射线,涡流,超声波,红外等
  注:我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准,包括国家标淮,国际、美国、日本、欧洲标准等均指定采用机械式测厚中的面接触测厚的方式,同时该方法也被作为薄膜,铝箔,纸张等材料的仲裁方法。
  接触式设备
  应用范围
  采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保
  接触式薄膜测厚仪
  接触式薄膜测厚仪
  证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
  技术特征
  严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
  测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
  支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
  实时显示测量结果的值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
  配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
  系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
  系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
  标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输
  支持Lystem?实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告[1]
  执行标准
  ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
  技术指标
  负荷量程:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)
  分辨率:0.1μm
  测量速度:10 次/min (可调)
  测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
  接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
  注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
  电源:AC 220V 50Hz
  外形尺寸:300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
  净重:33kg
  仪器配置
  标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
  选购件:软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
  非接触式设备
  英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪,可以实现对薄膜的非接触式测量,避免对纸张造成形变引起误差。
  测量原理
  使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。
  非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。

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