供应CMI920

X射线荧光测厚仪CMI920
CMI920镀层测厚仪：又称X射线荧光测厚仪，是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪，X-Strata920能进行非破坏、非接触，快速*测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。

CMI900应用范围

用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、连接器、端子、卫浴洁具、五金件、汽车*部件、*饰饰品、装饰件、功能性电镀……多个行业表面镀层厚度的测量；

测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体(镀液的成分分析)组成。

产品主要特征：

可测元素范围：钛Ti22---铀U92；

可测定5层(4层镀层+底材层)镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

进行贵金属检测，如Au karat评价；

材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

测量精度高、稳定性好，测量结果*至μin；

强大的数据统计、处理功能，测量结果输出多样化；

拥有NIST认证的标准片；

提供*服务及技术支持。