供应TDR特性阻*测试仪

TD特性阻*测试仪产品介绍   
用途：特性阻*测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻*，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻*测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。

特点：
1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。
2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻*测试。
4、支持2通道、4通道及8通道测试。
5、快速*测试任务及批量化、自动化测试功能。
6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。
7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。
8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
9、打印测试报表、波形及测试结果。
10、*合*-TM-650和*2141标准。
 
特性阻*测试仪技术参数
项目 规格
型号 TDR-ZK2120
控制阻*测试范围 20～150Ω
测量精度 50Ω±1%
测量长度 0.05～2m
水平显示分辨率 0.2mm
垂直显示分辨率 0.05Ω
测试方法 时域反射法
带宽 3GHZ