供应薄膜镀层分析仪

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菲希尔XDLM是一款应用广泛的能量色散型X射线薄膜镀层分析仪,适合*测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的*部件及印刷线路板。其采用比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行*测量,为了使每次测量*在*优的条件下进行。菲希尔XDLM配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片,无论是镀层系统还是固体和液体样品,薄膜镀层分析仪*在没有标准片的情况下进行分析和测量。并且有着良好的长期稳定性,不用经常佼准仪器,可节省时间。

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型号/规格

XULM

品牌/商标

菲希尔*CHER