供应X-RAY膜层分析仪

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X-RAY膜层分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合*分析测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的*部件及印刷线路板.镀层分析仪配备比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行*测量.为了使每次测量*在*优的条件下进行,仪器配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片.无论是镀层系统还是固体和液体样品,*在没有标准片的情况下进行分析和测量.并且有着良好的长期稳定性,不用经常佼准仪器,可节省时间。
典型的应用领域有:
1.测量大规模生产的*部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板

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型号/规格

XDL230 XDLM XDL210

品牌/商标

*CHER 菲希尔